半導體行業作為一個重要的產業,一直是現代科技中不可或缺的一部分。它是電子設備的重要組成部分， 由純元素制成，通常是硅或鍺，或砷化鎵等化合物。在稱為摻雜的過程中，少量雜質被添加到這些純元素中，導致材料的電導率發生巨大變化。半導體技術已經是現代科技發展中不可或缺的一部分，被廣泛應用于電子、通信、能源等領域，并且推動了通信、計算、醫療保健、軍事系統、運輸、清潔能源和無數其他應用的進步。
隨著市場的快速發展，在半導體行業中，對出產質量的需求越來越嚴格，這就需要用到大量的自動化制造加工設備，這些設備科技含量高，制造難度大，設備價值量高，進而促進了機器視覺技能的不斷發展壯大，機器視覺自身也跟著半導體、電子、主動化、光學等技能快速發展而不斷發展和完善。樂視自動化科技有限公司有著多年的機器視覺行業經驗，在機器視覺的應用領域上有著不少成功的案例和解決方案。下面分享些半導體在機器視覺中的成像案例。
電容表面缺陷檢測
使用光源：LTS-RNMU75-BGR+FT5050-G
使用多色光不同角度照射，缺陷位置呈現出不同的顏色，對電容的表缺陷檢測比較有利，增加底部光源不同顏色突出產品輪廓。
晶圓表面的字符檢測
使用光源：LTS-3COX13752-W
晶圓表面比較光滑，平整的晶圓表面激光雕刻字符，使用垂直均勻光同軸光，使字符輪廓清晰，呈現出明顯的對比度。
晶圓弧邊倒角檢測
使用光源：LTS-2HSL10542-W
晶圓邊為圓弧倒角類型，需要高精度測試其最高點與倒角的夾角，采用平行性強的平行集光源，配合高景深的雙側遠心鏡，邊緣清晰。
芯片金線檢測
使用光源：LTS-3DM116-W
需要檢測芯片與金線連接是否有斷，金線為圓柱且不在同一高度，采用彩色相機配合非常均勻的圓頂光源拍攝，成像清晰對比度好。
CPU底座針腳異色
使用光源：LTS-DM154-W+LTS-COX38-CP-W
CPU底座針腳是圓弧狀，需要將針腳周圍異色檢測清楚，不能有金屬反光，使用均勻光圓頂組合高精度同軸，呈現出針腳整體均勻，異色清晰明顯。
磁柱表面缺陷檢測
使用光源：LTS-COXL100-W
磁柱表面有凹坑、劃傷、蹦缺等缺陷，使用線陣相機，讓產品轉動一周，配合同軸線光，能清晰的呈現劃傷，凹坑等缺陷，對比度明顯，輕微的缺陷都可以很清晰的對比度。
透明晶片輪廓檢測
使用光源：LTS-RN9070-W
透明晶片放在治具內，需要檢測出晶片的尺寸，由于晶片透明，很難檢測出輪廓，使用環形光加偏振，使輪廓邊緣清晰，突顯出晶片的輪廓。
芯片定位檢測
使用光源：LTS-COX38-CP-W
芯片非常小，需要在6倍鏡頭下才能看到輕微的輪廓，在高倍鏡頭下普通同軸已經滿足不了清晰度了，使用高精度同軸，使芯片輪廓清晰。
樂視科技一直伴隨著半導體行業成長，長期協助半導體科技公司解決視覺成像方案，為客戶提供整體機器視覺解決方案及服務，把機器視覺技術應用到半導體行業的智能生產中，大大的提升效率與產品質量。
